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간섭법

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간섭법(干涉法, interferometer) 또는 간섭계(干涉計)는 2개의 광선 간섭작용을 이용하여 짧은 길이의 광파장 측정이나 선 스펙트럼 등을 해석하는 방법이다.[1]

간섭법은 일반적으로 전자기파를 사용하며 천문학, 광섬유, 공학 계측, 광학 계측, 해양학, 지진학, 분광학(및 화학에 대한 응용), 양자역학, 입자물리학, 플라즈마 물리학, 생체분자 상호작용, 표면 프로파일링, 미세 유체역학, 기계적 응력/변형 측정, 유속계, 검안 및 홀로그램 만들기 분야에 중요한 탐구 기법이다.[2]

간섭계는 간섭으로부터 정보를 추출하는 장치이다. 미세한 변위, 굴절률 변화 및 표면 불규칙성을 측정하기 위해 과학 및 산업에서 널리 사용된다. 대부분의 간섭계의 경우 단일 광원에서 나오는 빛이 서로 다른 광학 경로를 이동하는 두 개의 빔으로 분할된 다음 다시 결합되어 간섭을 생성한다. 그러나 일부 상황에서는 두 개의 일관되지 않은 소스가 간섭을 일으킬 수도 있다.[3] 그 결과로 나타나는 간섭 패턴은 광경로 길이의 차이에 대한 정보를 제공한다. 분석과학에서 간섭계는 나노미터 정밀도로 광학 부품의 길이와 모양을 측정하는 데 사용된다. 이는 현존하는 가장 정밀한 길이 측정 장비이다. 푸리에 변환 분광법에서 이들은 물질 또는 혼합물과 관련된 흡수 또는 방출 특징을 포함하는 빛을 분석하는 데 사용된다. 천문 간섭계는 신호를 결합하는 두 개 이상의 개별 망원경으로 구성되어 개별 요소 사이의 최대 간격과 동일한 직경의 망원경, 동일한 해상도와 더 우수한 분해능을 제공한다.

같이 보기

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각주

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  1. Bunch, Bryan H; Hellemans, Alexander (April 2004). 《The History of Science and Technology》. Houghton Mifflin Harcourt. 695쪽. ISBN 978-0-618-22123-3. 
  2. Hariharan, P. (2007). 《Basics of Interferometry》. Elsevier Inc. ISBN 978-0-12-373589-8. 
  3. Patel, R.; Achamfuo-Yeboah, S.; Light R.; Clark M. (2014). “Widefield two laser interferometry”. 《Optics Express》 22 (22): 27094–27101. Bibcode:2014OExpr..2227094P. doi:10.1364/OE.22.027094. PMID 25401860.